討論區主頁 » SLR綜合及副廠鏡版 » 您測了沒? CCD壞點研究 | 無發表權 |
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jerloong | 發表時間: 2004-12-02 22:06 |
版主 註冊日: 2004-10-18 來自: 發表數: 2768
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Re: 您測了沒? CCD壞點研究 >熱雜訊也屬CCD,CMOS的良率問題?
有此可能吧! 許多人的認知: 熱雜訊產生 在不同照片會出現在不同位置? 若出現在同一位置應為壞點? 但小弟測試熱雜訊座標位置重複性高 根據小弟測試結果 1. E-20 手動曝光 快門設定最長為60秒(ISO80) 而60秒雜訊在二次測試中 座標一致性高 卻與2" 4" 8: 15" 30" 一致性較低 推論 60秒接近臨界值 溫度有大改變 故設計上將可設定最長時間 定為此 ( B快門不算) 2. E-300 P & A 模式最長快門會因ISO值而變 因該與熱雜訊有關 ISO 100 ISO 200 ISO 400 ISO 800 ISO 1600 P 1 sec 1/2 sec 1/4 sec 1/8 sec 1/15 sec A 50 sec 25 sec 13 sec 6 sec 3.2 sec S 30 sec M 30 sec + Bulb |
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您測了沒? CCD壞點研究 | jerloong | 2004-12-02 13:19 |
Re: 您測了沒? CCD壞點研究 | jerloong | 2004-12-02 18:57 |
Re: 您測了沒? CCD壞點研究 | jerloong | 2004-12-02 19:33 |
Re: 您測了沒? CCD壞點研究 | ITO | 2004-12-02 21:16 |
» Re: 您測了沒? CCD壞點研究 | jerloong | 2004-12-02 22:06 |
Re: 您測了沒? CCD壞點研究 | jerloong | 2004-12-11 10:43 |
Re: 您測了沒? CCD壞點研究 | jerloong | 2005-07-30 22:13 |
Re: 您測了沒? CCD壞點研究 | jerloong | 2007-01-12 20:47 |
Re: 您測了沒? CCD壞點研究 | rorolala | 2007-01-13 21:41 |
Re: 您測了沒? CCD壞點研究 | jerloong | 2007-01-14 01:26 |
Re: 您測了沒? CCD壞點研究 | rorolala | 2007-01-14 12:54 |
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