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發表者 討論內容
jerloong
發表時間: 2004-12-02 22:06
版主
註冊日: 2004-10-18
來自:
發表數: 2768
[413] Re: 您測了沒? CCD壞點研究
>熱雜訊也屬CCD,CMOS的良率問題?
有此可能吧!

許多人的認知:
熱雜訊產生 在不同照片會出現在不同位置?
若出現在同一位置應為壞點?
但小弟測試熱雜訊座標位置重複性高

根據小弟測試結果
1. E-20 手動曝光 快門設定最長為60秒(ISO80)
而60秒雜訊在二次測試中 座標一致性高
卻與2" 4" 8: 15" 30" 一致性較低
推論 60秒接近臨界值 溫度有大改變 故設計上將可設定最長時間 定為此 ( B快門不算)

2. E-300 P & A 模式最長快門會因ISO值而變 因該與熱雜訊有關
ISO 100 ISO 200 ISO 400 ISO 800 ISO 1600
P 1 sec 1/2 sec 1/4 sec 1/8 sec 1/15 sec
A 50 sec 25 sec 13 sec 6 sec 3.2 sec
S 30 sec
M 30 sec + Bulb
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主旨: 發表者 日期
   您測了沒? CCD壞點研究 jerloong 2004-12-02 13:19
     Re: 您測了沒? CCD壞點研究 jerloong 2004-12-02 18:57
       Re: 您測了沒? CCD壞點研究 jerloong 2004-12-02 19:33
         Re: 您測了沒? CCD壞點研究 ITO 2004-12-02 21:16
         » Re: 您測了沒? CCD壞點研究 jerloong 2004-12-02 22:06
             Re: 您測了沒? CCD壞點研究 jerloong 2004-12-11 10:43
               Re: 您測了沒? CCD壞點研究 jerloong 2005-07-30 22:13
                 Re: 您測了沒? CCD壞點研究 jerloong 2007-01-12 20:47
                   Re: 您測了沒? CCD壞點研究 rorolala 2007-01-13 21:41
                     Re: 您測了沒? CCD壞點研究 jerloong 2007-01-14 01:26
                       Re: 您測了沒? CCD壞點研究 rorolala 2007-01-14 12:54

無發表權
 

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